Елементний склад — швидкий напівкількісний аналіз (XRF)
Аналіз елементного складу методом рентгенофлуоресценції (XRF) дозволяє швидко визначити які хімічні елементи присутні у зразку та в якому приблизному співвідношенні — без руйнування матеріалу і без тривалої пробопідготовки.
Це напівкількісний метод: результат дає достовірну картину складу і відносного вмісту елементів, але для задач де потрібна висока точність кількісних значень (наприклад сертифікація або регуляторний контроль) рекомендується подальше уточнення методом ICP.
Лабораторія OTAVA використовує XRF-аналізатор для широкого спектру прикладних задач у виробництві, контролі якості та ідентифікації матеріалів.
Типові задачі, з якими звертаються до лабораторії:
- ідентифікація марки металу або сплаву
- перевірка відповідності складу матеріалу специфікації постачальника
- виявлення сторонніх елементних домішок у сировині
- сортування і класифікація металобрухту
- контроль якості покриттів і поверхневих шарів
- попередня характеристика зразка перед більш детальним аналізом
Дослідження може проводитися для різних типів зразків:
- метали та сплави
- полімери та пластики
- покриття та поверхневі шари
- керамічні та будівельні матеріали
- промислова сировина
Ключова перевага методу — зразок не руйнується і не потребує спеціальної підготовки, що значно скорочує час отримання результату порівняно з класичними методами елементного аналізу.
Вартість дослідження залежить від типу зразка та рівня деталізації:
Напівкількісний аналіз — від 2 520 грн/зразок.
Повний кількісний аналіз з калібруванням під матрицю — 5 040 грн/зразок.
Якщо вам потрібна більш висока точність кількісних значень або аналіз розчинів і рідких зразків — розгляньте елементний аналіз зразка (до 20 елементів) методом ICP як більш точний варіант.
Якщо вам потрібна саме ідентифікація марки сталі або сплаву — розгляньте <a href="https://otava.ua/products/marka-stali-pmi">ідентифікацію марки сталі та сплавів (PMI)</a> як більш спеціалізований варіант.
XRF — швидший, дешевший і не руйнує зразок. Результат можна отримати протягом кількох хвилин без тривалої пробопідготовки. Водночас XRF є напівкількісним методом — він дає достовірну картину складу, але для задач де потрібна висока точність кількісних значень (сертифікація, регуляторний контроль) рекомендується ICP. Часто XRF використовують як перший крок для попередньої характеристики зразка.
Ні. XRF є неруйнівним методом — зразок після аналізу повертається замовнику в незмінному стані.
Метод визначає більшість елементів від натрію (Na) до урану (U). Легкі елементи — вуглець, азот, кисень — XRF не визначає, для них потрібні інші методи. Уточніть при зверненні які саме елементи вас цікавлять.
Принципи конфіденційності: Оскільки більшість наших завдань включають дослідження ноу-хау, новітніх технологій і зразків, що становлять комерційну таємницю, ми дотримуємось найвищих стандартів конфіденційності. Інформація про клієнтів або дослідження не підлягає розголосу. Консультації та супровід надаються лише контактним особам замовника. Усі запити щодо деталей дослідження приймаються лише в письмовому вигляді. На прохання замовника перед повідомленням ним задачі підписується Договір про нерозголошення (NDA).
XRF — швидший, дешевший і не руйнує зразок. Результат можна отримати протягом кількох хвилин без тривалої пробопідготовки. Водночас XRF є напівкількісним методом — він дає достовірну картину складу, але для задач де потрібна висока точність кількісних значень (сертифікація, регуляторний контроль) рекомендується ICP. Часто XRF використовують як перший крок для попередньої характеристики зразка.
Ні. XRF є неруйнівним методом — зразок після аналізу повертається замовнику в незмінному стані.
Метод визначає більшість елементів від натрію (Na) до урану (U). Легкі елементи — вуглець, азот, кисень — XRF не визначає, для них потрібні інші методи. Уточніть при зверненні які саме елементи вас цікавлять.